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SENTECH光谱椭偏仪的型号技术参数及应用 SENTECH是一家专注于光谱椭偏仪研发和生产的公司，其产品广泛应用于薄膜、材料分析等领域。以下是几种SENTECH光谱椭偏仪的型号、技术参数及应用。 1. SENresearch - 光谱范围：190nm–2500nm - 测量速度：快速 - 测量精度：高 - 应用： - 薄膜厚度测量 - 折射率测量 - 吸收系数测量 - 材料性质描述，如材料组分、折射率梯度、表面和界面粗糙层、各向异性材料和多层膜 - 分析不理想的样品，如退偏效应，非均匀样品，散射和背板反射 - 地貌图扫描选项，支持对复杂多层膜样品在全波段快速测量并分析其均匀性。 2. SENpro - 光谱范围：370到1050nm - 测量速度：快速 - 操作：简单 - 数据分析：直观 - 应用： - 测量单层和多层膜的厚度和光学常数 - 成本效益高，适合预算有限的研究和工业应用 - 自动扫描功能，支持均匀性测量。 3. SENDURO - 光谱范围：未明确给出，但适用于透明和反射基片上单层薄膜和层叠膜的测量 - 测量速度：快速，总时间只需几秒钟 - 自动化程度：高，全自动模式，自动对准传感器 - 应用： - 质量控制和研发中的常规应用 - 生产和工艺监控 - 半导体上的介质膜到玻璃上的多层光学涂层的测量 - 预定义或用户定义的自动扫描模式，允许广泛的统计特性和数据图形显示。 4. SER 800 PV - 光谱范围：未明确给出，但优化用于光伏应用 - 测量灵敏度：高 - 去偏振校正：具备 - 应用： - 光伏应用中的纹理晶体和多晶硅太阳能电池上抗反射涂层和功能层的测量 - 单片薄膜和多层堆叠物的测量 - 公式模式特别适用于质量控制中所需的常规应用。 5. SENresearch 4.0 - 光谱范围：190nm(深紫外)到3500nm(近红外)- 测量精度：高 - 应用： - 光谱椭偏仪，适用于全穆勒矩阵、各向异性、广义椭偏、散射测量等 - 宽光谱范围和高光谱精度，适用于多种材料和薄膜的测量。 总结 SENTECH光谱椭偏仪系列涵盖了从基础研究到工业应用的多种需求，具有广泛的光谱范围、快速的测量速度和高精度的特点。这些仪器在薄膜、材料分析、光伏应用等领域有着广泛的应用，能够满足不同用户的需求。
