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100μΩ分辨率｜Huace DT-L3 多通道导通电阻测试系统
一、高准度测量能力
华测仪器 Huace DT-L3 导通电阻测试系统，是为电子器件连接可靠性评估而设计。设备采用四端子测试法，实现微欧级高准度测量，可减少引线电阻、接触电阻引入的测量干扰，分辨率可达 100μΩ，能够准确捕捉焊点、接点在试验过程中微弱的电阻漂移与波动变化，及时识别早期隐性连接失效问题。
二、多通道环境模拟测试
系统标配 128 通道并行测试能力，通道数量支持灵活扩展，可实现多组试样同步并行数据采集，降低批量试验的测试周期，优化可靠性试验效率。设备可对接外部环境试验箱，适配高低温循环、温度交变等环境试验条件，能够完成全温域条件下导通电阻的长时间连续监测，复现器件实际环境工况，还原温度应力对连接触点性能带来的影响。
三、丰富的应用领域
该设备应用覆盖面广，可用于 PCB 焊接接点、BGA 封装焊点、继电器触点、连接器以及新能源高压组件等多种器件的可靠性验证，普遍服务于电子研发、质量检测、新能源等领域，为器件连接可靠性分析、失效机理研究提供可靠的数据支撑。
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