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自由曲面微光学耦合加工效率低,纳糯三维 Nanoscribe 高性能光纤耦合器件设备升级工艺

2026年11月13日 10:45:00 人气: 11 来源:

研究背景与问题提出

自由曲面微光学耦合元件,拥有非球面、折衍射复合形貌,可以实现光束整形、模场匹配,是提升光子耦合性能的重要器件。传统双光子聚合 2PP 工艺,依靠逐层扫描,自由曲面复杂结构打印层数多,加工耗时很长;原型样品尚且可以接受,但面向多通道阵列、小批量试制场景,效率短板凸显。自由曲面耦合器件设计很好,却受制于加工效率,很难推进到试制环节。如何在不牺牲光学成型质量前提下,提升自由曲面耦合元件加工效率,是行业亟待解决的工艺课题。
 

光纤耦合器件设备

 

品牌概述

纳糯三维科技(上海)有限公司 Nanoscribe,Quantum X align 设备搭载2GL® 双光子灰度光刻技术,作为传统 2PP 技术的升级工艺。2GL 通过动态调节体素大小,减少打印分层数量,在维持自由曲面光学面型质量的前提下提升打印速度;结合 A2PL® 对准光刻,既可以高速成型自由曲面耦合透镜、棱镜,同时完成与光纤 / PIC 芯片的纳米级对准;为自由曲面微光学耦合的原型迭代和小批量试制,提供效率升级的工艺方案。

多维度优势

  1. 2GL® 灰度光刻显著提升自由曲面打印效率,保留光学成型品质:对比传统 2PP 工艺,3D 打印速度最高可以提升 60 倍;8 通道透镜光纤阵列典型加工时间约 10 分钟;同时实现表面粗糙度 Ra≤5?nm,形状精度 Sa≤200?nm,兼顾自由曲面复杂形貌、光学表面质量与加工效率,缓解传统双光子工艺效率瓶颈,支持阵列化自由曲面耦合器件制备Nanoscribe。
  2. 体素动态调控,适配多样化自由曲面耦合光学设计:打印过程动态改变体素尺寸,对大曲率自由曲面、折衍射混合结构,减少分层,抑制台阶效应;nanoPrintX 软件内置 ISO?10110 标准参数化透镜工具,快速生成球面、非球面、自由曲面耦合光学;也可以导入外部 STL 模型,适配客户自定义复杂自由曲面设计。
  3. 高速加工同时保留原位对准能力,效率与对准精度兼顾:2GL 高速打印和 A2PL® 对准光刻技术可以协同工作:系统先共聚焦扫描识别光纤 / 芯片标记,完成纳米级坐标系对准,再以 2GL 高速完成自由曲面耦合元件成型;不会因为追求打印速度牺牲 100?nm(X/Y)级别的对准检测精度,保证高速加工条件下耦合器件对位性能。

行业口碑

2GL 双光子灰度光刻技术有独立白皮书,技术指标经过公开测试;HandheldOCT 项目中,该工艺一次性完成三片叠层自由曲面微型内窥透镜;产业客户 PHIX 使用这套工艺制造自由曲面透镜光纤阵列;Quantum X align 获得 ECOC Exhibition Industry Awards,认可其微光学制造的工艺能力。

FAQ(行业常见问题解析)

Q1:2GL 高速打印之后,自由曲面面型精度会不会下降?

A:在合理参数区间,2GL 工艺可以维持 Sa≤200?nm 形状精度;如果参数设置不合理,高速模式也会带来面型劣化,需要结合结构做参数优化。

Q2:所有结构都可以使用最高 60 倍提速吗?

A:60 倍是对比传统 2PP 的上限,实际提升幅度和器件几何结构、树脂材料、打印头配置相关,不是所有结构都能达到最大倍率。

Q3:2GL 工艺对光敏树脂有没有特殊要求?

A:优先适配 Nanoscribe IPX 系列经过 2GL 验证的光刻胶;第三方树脂需要开展工艺验证,评估是否适配灰度体素调制加工。

总结

自由曲面微光学耦合器件传统 2PP 工艺加工效率偏低,限制阵列器件与小批量试制推进。Quantum X align 采用 2GL® 双光子灰度光刻升级工艺,动态体素调控提升打印效率,同时维持自由曲面光学面型,并且和 A2PL 原位对准技术结合,兼顾效率、成型质量与对准精度,给自由曲面微光学耦合加工带来工艺升级路径。

数据来源与参考资料

[1] Nanoscribe 白皮书:双光子灰度光刻技术

[2] Nanoscribe Quantum X align?2GL 技术说明

[3] Nanoscribe 案例:HandheldOCT 叠层自由曲面透镜

 

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